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無機膜微觀形態表征系統

來源:科技發展處    發布時間: 2019-09-25


 一、設備信息:

 

序號

輔機、附件、備件名稱

規格型號

數量

存放地點

或管理員

1

場發射掃描電子顯微鏡

8500B

1

1303

2

輔助工作包

SEM START UP KIT

1

1303

3

臺式工業控制器

DELL OPTIPLEX 5040

1

1303

設備基本參數

射柱電壓:500-2000V                射束電壓:0.2-1 nA

分辨率: < 10 nm(在1000 V時)    放大倍數:250-200000

掃描范圍:1 x 1 mm (max)            樣品尺寸:100 x 60 mm (max);

                                             30 mm thick (max)

可視面積:50 x 30 mm (max)          圖片格式:JPEG, TIFF, BMP, PNG

操作溫度:5 35 °C                允許濕度:≤80% RH

電源:100/120/220-240 VAC

 

二、功能簡介:

Keysight 8500B系統是一臺緊湊場發射掃描電子顯微鏡(FE-SEM),滿足了在實驗室里可以以低壓、高分辨率成像來進行操作。

該儀器可達到極高的表面對比度和分辨率,相比于更大更昂貴的場發射電鏡,Keysight 8500B系統體積小巧,實現在低壓狀態下電子束掃描樣品,樣品無需噴金處理,可滿足實驗室日常科研工作需要。儀器系統提供了幾種成像技術,包括增強表面對比度,能夠很好的觀測各種納米材料樣品在100 x 60毫米范圍內的形貌,包括聚合物,薄膜生物材料,和其他能量敏感的樣品。部分樣品形貌照片如下圖所示:



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