儀器型號：S2 RANGER

生產廠家：德國布魯克AXS公司

工作原理：X射線照射到樣品上。樣品中的各種元素，就會發出各自的特征X射線熒光。通過探測器分析這些從樣品發射出來的X射線，就可以得出樣品的組成元素及其含量。

主要附件：研磨機；壓樣機；計算機

性能及技術指標：

  ·進樣器：28位X-Y二維自動進樣器，松散粉末和液體樣品最多50mL，固體樣品最大直徑40mm，最大高度40mm，最大重量200g；

　·X-光管：Pd靶，最大功率50W，最大激發電壓50KV，最大激發電流2mA，9位初級光路濾光片；

　·檢測器：第四代XFlash硅漂移探測器（SDD），電冷卻，無需液氮，能量分辨率優于145eV MnKa 100Kcps，最大計數范圍500Kcps。

主要功能：S2RANGER能量色散型 X射線熒光光譜儀，配備第四代XFlash硅漂移探測器28位X-Y二維自動進樣器，能夠對固體、液體、鍍層、泥漿、薄膜、切屑等各類樣品中Na~U之間的元素進行定量或半定量測定。具有操作簡單、重現性好、靈敏度高、測量速度快、應用范圍廣等特點。

用途：

   能量色散型X射線熒光光譜儀能夠對固體、液體、鍍層、泥漿、薄膜、切屑等各類樣品中Na~U之間的元素進行ppm~100%范圍的檢測。分析對象適用于煉鋼、有色金屬、水泥、陶瓷、石油、玻璃等行業樣品。

無標半定量方法可以對各種形狀樣品定性分析，并能給出半定量結果，結果準確度對某些樣品可以接近定量水平。X射線熒光光譜儀分析快速，某些樣品很快就可以得到分析結果。適合課題研究和生產監控。

檢測項目：

    金屬、玻璃、粉末、液體等定量分析；

　　金屬、玻璃、陶瓷、鍍層、薄膜、粉末、液體等無標樣半定量分析。